Maarten Hofman,
Henjo Schot,
Arjan van der Weijden,
Arno Roelofs,
Eric Aardoom (IMEC),
Paul Stravers (Philips Research),
Frans van Camp,
Andre van der Avoird,
Guillermo Cuppers,
Maarten Bijster,
Edwin van Dalen,
Dennis N. Moolenaar,
Eric J.P. Demeijer,
Bas van Houte (NWT datawave),
Apoorv Srivastava (ISI),
Theo Baan (ASM Lithography),
Tobias Nijweide,
Marcel van der Lem,
Marco van Harsel,
Paul R. Gelderman,
Kees Hol,
Marcel van der Boom,
Maarten van den Hemel,
Paul Boot,
Mark Kettner,
Marcel van der Laan (SpaSe BV),
Erwin C. Abrahamse,
Henk Punt,
Niels Carpentier,
Maarten Boekhold,
Alexander Lint,
Robert de Gruyl,
Noud van Klinken.